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基線平直度與基線漂移的主要區別
來源:http://www.rolypigusa.com/   作者:紫外可見分光光度計    更新日期:2014-06-09 12:16:16   
①物理概念不同 
基線平直度:全波長範圍內,各個波長上的噪聲,與濾光片和光源切換有關;
基線漂移:與時間有關的光度值的變化量,主要影響因素是儀器的電子學部分和儀器周圍的環境。
②測試條件不同
基線平直度:在A=O、SBW-2nm的條件下,進行全波長慢速掃描;
基線漂移:在A=O. SB、Ⅳ=2nm、波長固定為500nm的條件下,紫外可見分光光度計儀器冷態開機(關機2h後開機),預熱2h後,進行掃描th,取這th內最大最小值之差,即為基線漂移。
③影響的因素不同
基線平直度:影響基線平直度的因素有7個;
基線漂移:影響基線漂移的主要因素是儀器的電子學係統(主要是電源)和環境(電磁場、溫度、濕度等)。

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