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紫外可見分光光度計的基線平直度的測試方法
來源:http://www.rolypigusa.com/   作者:紫外可見分光光度計    更新日期:2014-07-28 21:58:37   
摘要:任何分析儀器,在講它的技術指標時,都必須首先講這個指標的測試方法。
任何分析儀器,在講它的技術指標時,都必須首先講這個指標的測試方法。目前,國際上對紫外可見分光光度計的基線平直度的測試方法,一般是:冷態開機,預熱半小時後,試樣和參比比色皿都為空氣,光譜帶寬SBW= 2nm、吸光度值為O,從長波向短波方向對儀器進行全波長慢速(或中速)掃描。在全波長範圍內,找出峰—峰(P-P)值中最大的一點,作為該儀器的基線平直度。目前,有許多科技工作者不注意這個問題;如,日本某紫外可見分光光度計,給出的儀器波長範圍是190~900nm,給出的基線平直度BF為±O,OO1;但是筆者經測試後發現該儀器的基線平直度隻能在200~800nm內才能保證為±O.001。這就意味著該儀器能保證 基線平直度為±O.001的使用波長範圍隻能是200~800nm。這種給基線平直度的方法是不對的。它既偏離了基線平直度的定義(每個波長上的噪聲),又會誤導使用者,會使使用者誤認為該儀器在190~900nm都能達到光度噪聲為±O.001。特別值得注意的是,還有的把基線平直度和基線漂移混為一談!如某公司,他們對某紫外可見分光光度計給出了“基線參移為±0. 002  (200--- 950nm,”和“基線漂移為N/A”的技術指標。顯然,這裏的“基線漂移”,是指的基線平直度。而該儀器的波長範圍為190一llOOnm,但對波長範圍為190一llOOnm的儀器,隻給200一950nm的基線平直度是不符合基線平直度的定義的!尤其,對某儀器給出的。基線漂移為N/A”,這種給法更是莫名其妙。另外,該公司又給出了某紫外可分光光度計儀器的“基線穩定性為O.001/h”,但未給出基線平直度。很顯然,該旬既未搞清穩定性的概念,又把基線平直度和500nm處的光度噪聲混為一談了。
筆者認為,在基線平直度的表示方法和測試方法上產生上述現象的原因,主要有三個:
第一,不懂得基線平直度的重要性,隨便亂寫;
第二,既未搞清基線平直度的物理概念,又未去認真研究,隻好人雲亦雲;
第三,為了商業上的需要。

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