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第61屆美國質譜年會(ASMS2013)閉幕
來源:http://www.rolypigusa.com/   作者:紫外可見分光光度計    更新日期:2013-06-21 12:46:14   

    每年一屆的的全球質譜盛會——美國質譜年會(ASMS 2013)於2013年6月9日至13日在美國明尼蘇達州明尼阿波利斯舉行,本次會議以大會報告、口頭報告、短期課程、專題討論會、牆報展及儀器展等多種方式來呈現質譜技術及應用方麵的新進展。有來自全球各地的幾千名質譜工作者將匯聚一堂。該會議由美國質譜學會主辦,主要為促進和傳播質譜相關知識,會議已經主辦了60屆,去年是在加拿大溫哥華舉行的。

                   第61屆美國質譜年會(ASMS2013)落下帷幕
    
   根據ASMS組委會公布的參展商名單,同期舉行的儀器展也是吸引了全球主流質譜儀器廠商參展,包括安捷倫、珀金埃爾默,以及賽默飛、AB SCIEX、布魯克道爾頓、沃特世、島津、力可、日本電子等等紫外可見分光光度計等儀器供應商。此外,在參展商名錄中也有兩家來自中國的供應商。

(本文來源:儀器信息網絡  編輯:分光光度計

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