紫外可見分光光度計供應商-龍門娛樂
< style="line-height:25px;color:">
紫外可見分光光度計導航菜單
< style="line-height:25px;color:">
紫外可見分光光度計首選供應商
< style="line-height:25px;color:">
全站搜索
< style="line-height:25px;color:">
< style="line-height:25px;color:">
ICP發射光譜儀曆史和進展
來源:http://www.rolypigusa.com/   作者:紫外可見分光光度計    更新日期:2014-12-31 13:18:24   

ICP發射光譜儀曆史和進展

電感耦合等離子體原子發射光譜儀是基於電感耦合等離子體原子發射光譜法(ICP-AES)而進行分析的一種常用的分析儀器。ICP-AES法是以電感耦合等離子炬為激發光源的一類原子發射光譜分析方法,它是一種由原子發射光譜法衍生乏出來的新型分析技術。
早在1884年Hittorf就注意到,當高頻電流通過感應線圈時,裝在該線圈所環的真空管中的殘留氣體會發生輝光,這是ICP光源等離子放電的最初觀察。1961年Reed設計了一種從石英管的切向通人冷卻氣的較為合理的高頻放電裝置,Reed把這種在大氣壓下所得到的外觀類似火焰的穩定的高頻無極放電稱為電感耦合等離子炬(ICP)。Reed的工作引起了S.Greenfield、R.H.Wenat和Fassel的極興趣,他們首先把Reed的ICP裝置用於原子發射光譜法(AES),並分別於1 964年和1 965年發表了他們的研究成果,開創了ICP在原子光譜分析上的應用曆史。
1975年美國的ARL (Applied Research Laboratories)公司生產出了第一品ICP-AES多通道光譜儀,1977年出現了順序型(單道掃描)ICP儀器,此後各類型的商品儀器相繼出現。至90年代ICP儀器的性能得到迅速提高,相繼推出析性能好、性價比有優勢的商品儀器,使ICP分析技術成為元素分析常規手段99 1年出現了采用Echelle光柵及光學多道檢測器的新一代ICP商品儀器,開始采電荷注入器件( charge injection device,CID)或電荷藕合器件(charge c coup\e管(PMT)檢測器,推出全譜直讀型ICP-AES
我國於20世紀80年代開始ICP-AES的研究,多限於自己組裝儀器,且多為展及應用滯後於國外。目前國內生產ICP的廠家多,且生產的都是單道掃描型光譜儀,采用光電倍增管傳統檢測器。隨著國外高內ICP分析技術應用得到迅速發展,ICP-AES分析技術也逐漸成為國內各實驗室元素分析的常規手段。
ICP-AES儀器技術新進展及發展方向主要體現在:
①分析的範圍和能力不斷擴展;
②固態檢測器和固態發生器的應用日益普遍;
③水平、垂直或雙向觀測技術不斷提高;
④儀器控製與數據處理向數字化、網絡化發展,操作軟件功能日益強大和自動化等;
⑤小型化、智能化、多樣化的適配能力、精確、簡捷、易用,且具有極高的分析速度等。

 

 

本文由:龍門娛樂整理編輯,版權所有!轉載請注明出處。

 
 
文章翻頁
< style="line-height:25px;color:">
< style="line-height:25px;color:">
紫外可見分光光度計網站底部信息
< style="line-height:25px;color:">
龍門娛樂 主營:分光光度計  紫外可見分光光度計  可見光度計  版權所有 Copyright(C)2005-2020 滬ICP備10016137號-1  網站地圖