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在儀器設計過程中誤差的分配設計
來源:http://www.rolypigusa.com/   作者:紫外可見分光光度計    更新日期:2014-07-17 10:44:41   
摘要:使用者利用儀器進行分析工作的目的就是要得到穩定可靠的數據,也就是說分析測試的數據誤差要小。而數據是否可靠,誤差是否符合要求,又取決於儀器的性能技術指標。所以,設計者應該緊緊圍繞“誤差”二字,對儀器的性能技術指標進行設計。目前,這個問題還沒有引起高度重視。

使用者利用儀器進行分析工作的目的就是要得到穩定可靠的數據,也就是說分析測試的數據誤差要小。而數據是否可靠,誤差是否符合要求,又取決於儀器的性能技術指標。所以,設計者應該緊緊圍繞“誤差”二字,對儀器的性能技術指標進行設計。目前,這個問題還沒有引起高度重視。

在設計過程中誤差的分配設計是最關鍵的問題,也是一個非常困難的問題。要求設計者必須懂得儀器學,必須對所設計儀器的主要性能技術指標的物理意義、分析誤差的影響以及測試方法等有非常深刻的認識。作者曾在1990年發表一篇論文“光譜儀器設計的一種新方法”,文中提出了光譜儀器設計的“光電歸一法”。該方法主要從儀器學的角度,從製造和使用兩者結合的角度,考慮分析誤差的分配。光電歸一法將光學和電子學的誤差“歸一”,用同一個量綱表示(電學量mV或吸光度A)。光電歸一法是作者綜合了Johnson、Scott、Munk和Winstead等人的科研工作而提出的一種新的設計方法,其核心是將光學類分析儀器整機的噪聲、漂移、靈敏度等統一用吸光度或電量表示。

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